Catégorie Communication dans un congrès Auteurs Jose Alvarez Irène Ngo Marie-Estelle Gueunier-Farret Jean-Paul Kleider Lianbo Yu Pere Roca I Cabarrocas Simon Perraud E. Rouvière https://centralesupelec.hal.science/hal-00555251v1 doc ID 555251 Nom Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires Date de publication ven 24/03/2023 - 12:00